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详细信息
法国PhasicsSID4系列波前传感器—— ——四波横向剪切干涉波前传感器
产品介绍：法国PHASICS 的波前分析仪（屹持代理专利号CN200780005898），基于其波前测量专利——四波横向剪切干涉技术（4-Wave Lateral Shearing Interferometry）。作为夏克-哈特曼技术的改进型，这种独特的专利技术将高分辨率和大动态范围很好地结合在一起。能实现全面、简便、快速的测量。
主要应用领域：
1. 激光光束参数测量：相位（2D/3D），M2，束腰位置，直径，泽尼克/勒让德系数
2. 自适应光学：焦斑优化，光束整形
3. 元器件表面质量分析：表面质量（RMS，PtV，WFE），曲率半径
4. 光学系统质量分析：MTF, PSF, EFL, 泽尼克系数, 光学镜头/系统质量控制
5. 热成像分析，等离子体特征分析
6. 生物应用：蛋白质等组织定量相位成像
产品特点：
1. 高分辨率：采样点可达120000个
2. 可直接测量：消色差设计，测量前无需再次对波长校准
3. 消色差：干涉和衍射对波长相消
4. 高动态范围：高达500μm
5. 防震设计，内部光栅横向剪切干涉，对实验条件要求简单，无需隔震平台也可测试
型号参数：
四波横向剪切干涉技术背景介绍型号 SID4 SID4-HR SID4-DWIR SID4-SWIR SID4-NIR SID4-UV-HR SID4- UV 孔径 3.6 × 4.8 mm² 8.9 × 11.8 mm² 13.44 × 10.08 mm² 9.6 × 7.68 mm² 3.6 × 4.8 mm² 13.6 ×10.96 mm² 8.0 × 8.0 mm² 空间分辨率 29.6 µm 29.6 µm 68 µm 120 µm 29.6 µm 40 µm 32 µm 采样点/测量点 160 × 120 400 × 300 160 × 120 80 × 64 160 × 120 345 × 275 250 × 250 波长 400nm~1100nm 400nm~1100nm 3~5µm,8~14 µm 0.9 ~ 1.7 µm 1.5 ~ 1.6 µm 190 ~ 400 nm 250 ~ 400 nm 动态范围 > 100 µm > 500 µm N/A ~ 100 µm > 100 µm > 200 µm > 200 µm 精度 10 nm RMS 15 nm RMS 75 nm RMS 10 nm RMS > 15 nm RMS 10 nm RMS 10 nm 灵敏度 < 2 nm RMS < 2 nm RMS < 25 nm RMS 3nm RMS(高增益）
<1nmRMS(低增益）< 11 nm RMS 1nm RMS
@250nm,2µJ/cm²0.5 nm 采样频率 > 60 fps > 10 fps > 50 fps 25/30/50/60 fps 60 fps 30 fps 30 fps 处理频率 10 Hz (高分辨率) 3 Hz (高分辨率) 20 Hz > 10 Hz (高分辨率） 10 Hz > 3 Hz (高分辨率） 1 Hz 尺寸 54×46×75.3mm 54×46×79mm 85×116×179mm 50×50×90mm 44×33×57.5mm 51 × 51 × 76 mm 95×105×84mm 重量 250 g 250 g 1.6 kg 300 g 250 g 300 g 900 g Phasics四波横向剪切干涉（屹持代理）：当待测波前经过波前分析仪时，光波通过特制光栅（图1）后得到一个与其自身有一定横向位移的复制光束，此复制光波与待测光波发生干涉，形成横向剪切干涉，两者重合部位出现干涉条纹（图2）。被测波前可能为平面波或者汇聚波，对于平面横向剪切干涉，为被测波前在其自身平面内发生微小位移发生微小位移产生一个复制光波；而对于汇聚横向剪切干涉，复制光波由汇聚波绕其曲率中心转动产生。干涉条纹中包含有原始波前的差分信息，通过特定的分析和定量计算梳理（反傅里叶变换）可以再现原始波前（图3）。技术优势
1.高采样点：
高达400*300个采样点，具备强大的局部畸变测试能力，降低测量不准确性和噪声；同时得到高精度强度分布图。
2.消色差：
干涉和衍射相结合抵消了波长因子，干涉条纹间距与光栅间距完全相等。适应于不多波长光学测量且不需要重复校准。
3.可直接测量高动态范围波前：
可见光波段可达500μm的高动态范围；可测试离焦量，大相差，非球面和复曲面等测。应用方向：
1. 光光束测量
可以实时测量强度相位（2D/3D）信息，Zernike/Legendre系数，远场，光束参数，光束形状M2等。2. 光学测量
Phasics波前传感器可对光学系统和元器件进行透射和反射式测量，zhuan业Kaleo软件可分析PSF,MTF等3.光学整形：
利用Phasics波前传感器检测到精确的波前畸变信息，反馈给波前校正系统以补偿待测波前的畸变，从而得到目标波前相位分布和光束形状。右图上为把一束RMS=1.48λ的会聚光矫正为RMS=0.02λ的准平面波；右图下为把分散焦点光斑矫正为准高斯光束。高频率大气湍流自适应需要配合高频波前分析仪。4.光学表面测量：
Phasics的SID4软件可以直接测量PtV, RMS, WFE和曲率半径等，可直接进行自我校准，两次测量相位作差等。非常方便应用于平面球面等形貌测量。部分测量光路如右图所示5.等离子体测量
法国Phasics公司SID4系列等离子体分析仪(Plasma Diagnosis)是一款便携式、高灵敏度、高精度的等离子体分析仪器。该产品可实时检测激光产生的等离子体的电子密度、模式及传播方式。监测等离子体的产生、扩散过程，以及等离子体的品质因数。更好地为客户在喷嘴设计、激光脉冲的照度、气压、均匀性等方面提供优化的数据支持。附：夏克哈特曼和四波横向剪切干涉波前分析仪对比表
Phasics剪切干涉 夏克哈特曼 区别 技术 四波侧向剪切干涉 夏克-哈特曼 PHASICS SID4是对夏克-哈特曼技术的改进，投放市场时，已经申请技术专利，全球售出超过500个探测器。 重建方式 傅里叶变换 分区方法（直接数值积分）或模式法（多项式拟合） 夏克-哈特曼波前探测器，以微透镜单元区域的平均值来近似。对于大孔径的透镜单元，可能会增加信号误差，在某些情况，产生严重影响。在分区方法中，边界条件很重要。 光强度 由于采用傅里叶变换方法，测量对强度变化不敏感 由于需要测量焦点位置，测量对强度变化灵敏 关于测量精度，波前测量不依赖于光强度水平 使用、对准方便 界面直观，利用针孔进行对准 安装困难，需要精密的调节台 SID4 产品使用方便 取样（测量点） SID4-HR达300*400测量点 128*128测量点（微透镜阵列） SID4-HR具有很高的分辨率。这使得测量结果更可靠，也更稳定 数值孔径 SID4 HR NA：0.5 0.1 SID4-HR动态范围更高 空间分辨率 29.6μm >100μm SID4-HR空间分辨率更好 灵敏度 2nmRMS 约λ/100 SID4-HR具有更好的灵敏度
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屹持光子信息科技（上海）有限公司
传统激光器、光栅、红外相机、波前分析仪、光束质量分析仪、光学斩波器、光电探测器、单光子探测器、激光功率计、激光波长计等
Phasics波前传感器SID4系列
页面价格仅供参考，具体请联系报价价格 价格电议,您可以向供应商询价得到该产品价格- 产品型号：SID4系列
- 品 牌：Phasics
- 所 在 地：上海
- 更新日期：2025-12-09
合计：1台总价：电议屹持光子信息科技（上海）有限公司 地址： 上海市闵行区剑川路940号B幢3层内容声明：谷瀑为第三方平台及互联网信息服务提供者，谷瀑（含网站、客户端等）所展示的商品/服务的标题、价格、详情等信息内容系由店铺经营者发布，其真实性、准确性和合法性均由店铺经营者负责。谷瀑提醒您购买商品/服务前注意谨慎核实，如您对商品/服务的标题、价格、详情等任何信息有任何疑问的，请在购买前通过谷瀑与店铺经营者沟通确认；谷瀑上存在海量店铺，如您发现店铺内有任何违法/侵权信息，请在谷瀑首页底栏投诉通道进行投诉。
