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    Phasics SID4 NIR波前传感器

    基于Phasics四波横向剪切干涉专利技术(专利号CN200780005898)的SID NIR波前传感器波长范围覆盖1.5- 1.6μm,具有超高分辨率(160x120测量点)。确保非常精确的波前测量。结构紧凑,很容易集成到一个光学台用于镜头测试或镜头校准。它也适用于光学表面测试。

    特点:

    由于其独特的专利技术,Phasics的SID4-NIR波前传感器具备以下特点:

    1.高分辨率160x120测量点

    2.高数值孔径测量:无需转镜头

    3.消色差:1.5-1.6μm

    4.结构紧凑:易于集成于光学系统

    应用:

    SID4 NIR主要应用镜头测试和光学系统校准。适用于所有的近红外光学,如用于电信领域或光谱和夜视设备。

    镜头表征:实时提供MTF和畸变数据。结构紧凑,易于集成于试验台和生产线。

    光学设备校准:它提供了一个非常准确的*小像差测量。

    SID4 NIR产品参数:

    波长范围​

    1500 - 1600 nm

    通光孔径

    3.6 x 4.8 mm2

    空间分辨率

    29.6 µm

    采样点(相位/强度)

    160 x 120 (> 19 000 points)

    相位相对灵敏度

    < 11 nm RMS

    相位精度

    15 nm RMS

    动态范围

    ~

    采样频率

    > 60 fps

    实时分析频率

    > 10 fps (full resolution)

    数据接口

    Giga Ethernet

    尺寸(w x h x l)

    44 x 33 x 57.5 mm

    重量

    ~250 g

     

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